集成电路制造技术复习笔记:第八章
物理气相沉积
PVD概述
物理气相淀积(Physical vapor deposition,PVD)是利用某种物理过程实现物质转移,将原子或分子由(靶)源气相转移到衬底表面形成薄膜的过程。
- 方法:真空蒸发和溅射
- 用途:PVD常用来制备金属薄膜:如Al、Au、Pt、Cu、合金及多层金属。
PVD相对于CVD而言工艺温度低,衬底温度可以从室温至几百摄氏度范围;工艺原理简单,能用于制备各种薄膜。但是,所制备薄膜的台阶覆盖特性、附着性、致密性不如CVD薄膜。PVD工艺主要用于芯片制作后期的金属类薄膜的制备,如芯片的金属接触电极,互连系统中的金属布线等。
真空蒸发法制备薄膜的基本原理
- 真空蒸发,即利用蒸发材料在高温时所具有的饱和蒸汽压进行薄膜制备。
- 在真空条件下,加热蒸发源,使原子或分子从蒸发源表面逸出,形成蒸汽流并入射到硅片表面,凝结形成固态薄膜。
- 制备的薄膜一般是多晶金属薄膜。
真空系统及真空的获得
真空蒸镀
真空蒸镀(Vacuum Evaporation)又称为真空蒸发,是把装有衬底的真空室抽吸至高真空度,然后加热源材料使其蒸发或者升华,形成源蒸气流入射到衬底表面,最终在衬底凝结形成固态薄膜的一种工艺技术。
工艺原理
- 源受热蒸发;
- 气化原子或分子在蒸发源与基片之间的输运;
- 被蒸发的原子或分子在衬底表面淀积:凝结→成核→生长→成膜
基本过程
- 蒸发过程
- 气相输运过程
- 成膜过程
优缺点
优点:
- 设备简单,操作容易
- 所制备的薄膜纯度较高,厚度控制较精确,成膜速率快。
- 生长机理简单
缺点:
- 所形成的薄膜与衬底附着力较小
- 工艺重复性不够理想
- 台阶覆盖能力差
已为溅射法和化学气相淀积法所代替
蒸镀薄膜的质量及控制
真空度
真空度对薄膜质量的影响很大。从整个蒸镀过程来看,真空室内的真空度(指的是基压)是所淀积薄膜纯度、致密度高低的关键。
- 源被蒸发时,蒸发原子在真空室的输运应为直线运动。如果真空度低,蒸气原子的平均自由程较短,当其小于从源到衬底的距离时,蒸发原子不断地与残余气体分子碰撞,运动方向不断改变,能量也受到损失,因此很难保证淀积在衬底上,即使淀积在衬底上也因原子自身能量低,在衬底表面的扩散迁移率下降,所淀积的薄膜就疏松,密度降低。
- 如果真空度低,真空室残余气体中含有的氧气(或水汽)会与在气相输运中的蒸发原子发生化学反应,使其氧化;同时,氧气(或水汽)也可能与加热衬底表面所吸附的蒸发原子发生化学反应,使其氧化,结果蒸镀的薄膜成为源的氧化物薄膜。
- 如果真空度低,真空室残余气体中含有的杂质原子(或分子)也会淀积到衬底上,进入薄膜之中,从而严重地影响蒸镀薄膜的纯度。
蒸镀方法
- 电阻加热蒸镀
- 电子束(EB)蒸镀
- 激光蒸镀
- 高频感应蒸镀
工艺名称 | 优点 | 缺点 |
---|---|---|
电阻加热蒸镀 | 出现最早,工艺简单 | 有加热器污染,薄膜台阶覆盖差,难镀高熔点金属 |
电子束(EB)加热 | 无加热器污染,可蒸发高熔点金属,热效率高 | 有辐射损伤[1],设备复杂,价格昂贵 |
激光蒸镀 | 加热温度高,可避免坩埚的污染; 材料蒸发速率高,蒸发过程容易控制; 适应于蒸发成份比较复杂的合金或化合物材料 |
- |
高频感应蒸发 | - |
溅射
溅射,指具有一定能量的入射离子在对固体表面进行轰击时,入射离子在与固体表面原子的碰撞过程中将发生能量和动量的转移,并可能将固体表面的原子溅射出来。
微电子工艺中的溅射,是指利用 气体辉光放电 时,离子对阴极轰击,使阴极物质飞溅出来淀积到基片上形成薄膜的工艺方法。
必须为金属靶材,非金属不行
工艺
直流溅射
- 在工作气体的气压较低时,靶阴极鞘层的厚度较大,原子电离过程多发生在距离靶较远的地方,因而离子运动至靶面的概率较小。同时,因电子平均自由程较长,电子在阳极上消失的概率就较大;而离子轰击阴极时发射二次电子的概率也相对较小。这些都使得工作气体的气压越低,原子电离成为离子的概率就越低,在低于 1Pa 时甚至不易发生自持放电。因此,薄膜淀积速率随着工作气体的气压降低而迅速下降。
- 而随着工作气体的气压升高,电子的平均自由程减小,原子的电离概率增加,溅射放电电流增加,薄膜淀积速率提高。但工作气体的气压升高达某一值时,飞溅出来的靶原子在飞向衬底的过程中将会受到过多的散射,因而淀积到衬底上的概率反而又会下降。
射频溅射
- 在射频电场作用下,气体电离为等离子体。靶相对于等离子体而言是负极,被轰击溅射;衬底放置电极与机壳相连,鞘层压降很小,与等离子体基本等电位。
- 可溅射介质薄膜,如SiO2等;
- 功率大,对人身防护成问题。
射频溅射的两个电极是连接在交变的射频电源上,应该就没有阴、阳极之分了。
而实际上,这两个电极是不对称的。
基于离子鞘效应,两个电极的电位都低于等离子体的电位,而且鞘层电压和电极面积的四次方成反比。
面积大的电极与等离子体电位接近,成为阳极;而面积小的电极远低于等离子体的电位,成为阴极。因此,放置衬底的电极几乎不受离子轰击;而靶电极相对于等离子体而言,一直处于低得多的负电位,会持续受到离子的轰击。于是,不管是绝缘体薄膜,还是导体或者是半导体薄膜都可以采用射频溅射方法制备。
磁控溅射
- 磁控溅射是在阴极靶面上建立与电场正交的环形磁场,以控制离子轰击靶面所产生的二次电子的运动轨迹。二次电子被局限于靶面附近,呈现螺旋状环形运动轨迹。
- 阴极靶面上建立一个磁场,以控制二次电子的运动,延长电子飞向阳极的行程,使其尽可能多产生几次碰撞电离从而增加了离子密度,提高溅射效率。
- 只能制备金属导电薄膜。
- 溅射质量和速率有了很大提高。
反应溅射
用化合物作靶可实现多组分薄膜淀积,但得到的薄膜往往与靶的化学组成有很大的差别。
溅射薄膜的质量及改善方法
与蒸镀工艺比较,溅射薄膜有以下特点:
- 保型覆盖特性好
- 附着特性好
- 密度大
- 淀积速度较慢
- 采用磁控溅射,薄膜纯度高
- 需要与薄膜成分相适应的高纯度靶材。
辐射损伤:薄膜电子由高激发态回到基态产生的。 ↑