半导体器件复习:PN结
PN结
静电特性&理想二极管方程
击穿
pn结反向电压超过某个特定值后,反向电流会突然急速增大,这一现象叫pn结电击穿。
发生电击穿时的反向偏压VBR叫击穿电压。VBR是pn结反向能够承受的最大电压。
- pn结电击穿不是破坏性的,即电击穿是一个可逆过程。击穿电压与pn结的结构以及掺杂分布有明确的关系,是可以预测的。
- pn结电击穿是一种强电场效应,其物理机制有两种,一是雪崩击穿,二是齐纳击穿。
雪崩倍增
碰撞电离产生的载流子以及原有的载流子,在强电场的作用下重新获得足够高能量,继续通过碰撞再次产生电子-空穴对,载流子的这种增加过程称为倍增,持续的倍增称为雪崩倍增。雪崩倍增会导致载流子数目急剧增加。
发生雪崩倍增的条件:
- 一是电场足够强,产生碰撞电离;
- 二是高电场区要有一定的宽度。
外延层厚度W小鱼击穿所需要的耗尽层宽度时击穿电压和外延层厚度有关。
提高雪崩击穿电压的方法:
- 降低结两边的掺杂浓度, 特别是低掺杂一侧的杂质浓度;
- 深结(增大曲率半径, 减小边角电场);
- 采用结终端技术(目的是降低结的曲率效应);
- 降低表面电荷(表面钝化)。
齐纳击穿
本质上是量子力学中的隧道效应,只发生在两边重掺杂的情况。
齐纳击穿的温度系数是负的,雪崩击穿的温度系数是正;光照对齐纳击穿没有明显的影响。
复合和产生电流
漂移电流IDIFF,复合电流I~R-G
大注入效应
大注入时, 被注入区的多子浓度将发生显著变化, 此区域电导率相对于平衡值明显增加, 这一现象称为电导调制效应。
大注入时, 不能认为外加电压全部降落在耗尽区, 此时, 准中性区的电场不能忽略。这种情况相当于大电流下有一个电阻与理想结串联。
交流小信号特性
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WalineGitalk