半导体物理复习笔记:第一篇
基本接触
四种基本接触:
- 金属-半导体接触 Metal-Semiconductor
- 欧姆接触
- 整流接触
- PN结
- 异质结(不同半导体材料)
- 金属-绝缘体-半导体接触 MIS
金半接触
-
整流接触(也称为肖特基接触或非欧姆接触):
- 这种接触具有不对称的电流-电压特性。当施加正向偏压时,电流可以相对容易地通过接触;然而,当施加反向偏压时,电流受到极大限制。这种行为类似于整流器的作用,因此得名整流接触。
- 整流接触通常形成于金属和n型或p型半导体之间,
-
欧姆接触:
- 欧姆接触是指那些表现出线性电流-电压关系的金属-半导体接触,即遵从欧姆定律。在这种情况下,电流与施加的电压成正比,而且电流可以在两个方向上自由流动,没有明显的方向偏好。
- 欧姆接触不产生明显的附加阻抗,接触电阻小。
- 为了实现良好的欧姆接触,通常需要降低金属与半导体之间的肖特基势垒高度,或者增加接触区域的掺杂浓度。这可以通过选择适当的金属、使用合金化工艺、提高半导体的掺杂水平等方式来
半导体材料
| 半导体类型 | 材料 | 带隙 (eV) | 类型 | 带隙类型 |
|---|---|---|---|---|
| 元素半导体 | Si | 1.12 | IV | Indirect |
| Ge | 0.67 | |||
| 二元化合物半导体 | GaN | 3.4 | III-V | Direct |
| GaP | 2.26 | Indirect | ||
| GaAs | 1.43 | Direct | ||
| InP | 1.4 | |||
| ZnS | 3.68 | II-VI | ||
| ZnO | 3.3 | Direct? [1] | ||
| 三元化合物半导体 | AlₓGa₁₋ₓAs | 连续变化 | III-III-V | - |
| InₓGa₁₋ₓAs |
砷化镓(GaAs)和磷化镓(GaP)是研究得最为深入、应用也最广泛的化合物半导体。
与硅相比,砷化镓的禁带宽一点,有利于制作需要在较高温度下工作的器件,但其热导率较低,不适于制作电力电子器件。砷化镓的另一特长是其电子迁移率很高,为硅的电子迁移率的五倍。因此,砷化镓晶体管和集成电路有较高的工作频率。
砷化镓集成电路广泛应用于军事设施,激光器、探测器、高速器件、微波二极管和微波IC 成熟的一些应用。
宽禁带半导体材料主要包括碳化硅(SiC)、金刚石和氮化镓(GaN)、氧化镓(Ga₂O₃)等。
氮化镓(GaN)禁带宽度大、电子饱和漂移速度高、介电常数小、热导性能好等特点,非常适合于制作高频、大功率、高密度和抗辐射集成的电子器件;而利用其特有的禁带宽度,还可以制作蓝、绿光和紫外光器件和光探测器件。
氧化锌通常认为是直接带隙半导体,但是特殊条件下可能出现间接跃迁的现象。 ↑
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